蔡司光学测量机O-INSPECT 543二次元影像测量仪

详细说明

蔡司光学测量机O-INSPECT 543二次元影像测量仪集光学式与接触式测量技术于一身，因此可用于众多部件的测量和分析。无需增加专用设备，O-INSPECT一机即可胜任。

配置
. Discovery远心变焦镜头
. 自适应照明系统
. VAST XXT扫描探头
. 测针架
. 标准球

选项
. 白光距离传感器

. 转台
. 含支架、玻璃托盘和网络托盘的上料系统

选项
CALYPSO